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紫外可见近红外分光光度计

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紫外可见近红外分光光度计

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产品编号
紫外可见近红外分光光度计
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产品描述

型号:UH4150

生产厂家:日立(中国)有限公司

启用日期:2020.04

设备参数:

1.  平行准直光束非聚焦光束,实现高精准的反射与透射测量;

2.  光源的光斑可根据需求调节,满足不同尺寸样品的测试;

3.  大样品室光学平台: 680 (W) × 470 (D) × 300(H) mm; 可放置430mm × 430mm大样品;

 4.  杂散光:0.00008%NaI220nm10g/L,10mm池),0.00005%NaNO2340nm10g/L,10mm池),0.025%(氯仿,1690nm, 10mm池)

5.  波长范围:185~3300nm

6.  光度计范围:Abs-2~5.0 Abs

7.  波长显示:0.01nm步进

 

 

8.  狭缝宽度

(a)紫外/可见区域:自动控制方式和0.01nm (0.02nm)步进转换在0.07-8.0nm之间

 (b)近红外区域:自动控制方式和0.1nm步进转换在0.18-20nm之间

9.  波长准确性:±0.2nm(紫外/可见区),±1.0nm(近红外区) 自动波长校正

10.波长重现性:±0.1nm(紫外/可见区),±0.5nm(近红外区)

测光方式:双光束直接比例测光方式(采用日立独特的微分反馈方式进行负吸光度或者是100%以上透过率/反射率的测量)紫外可见区:负高压控制方式和狭缝控制方式;近红外区:狭缝控制方式和固定狭缝方式。

设备应用 液体、浑浊液体、固体均可适用。可实现包括粉末、玻璃、光学薄膜、胶片材料、透镜、棱镜、单晶片、液体电路板等各种光学、电子设备材料的吸收/透过率/反射率的无损测试。广泛应用于半导体、光学元件、光电设备、新型材料的光谱性能研究,获取样品的吸收、全透射、正透射、漫透射、全反射、正反射、漫反射等光谱数据。

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